专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电缆屏蔽接触-CN200480034072.2无效
  • 丹尼尔·J·马林 - 西蒙公司
  • 2004-11-18 - 2006-12-20 - H01R9/05
  • 一种包括数个指形件的导电性屏蔽接触件,所述指形件形成在局部圆周上、用于接触电缆屏蔽,该指形件为分开的元件,每一指形件具有第一端部和第二端部。局部环形元件定位在指形件的第二端部并且连接到指形件上。形成有用于接触连接器的导电性部分、以在电缆屏蔽和连接器的导电性部分之间建立电通路的突片。
  • 电缆屏蔽接触
  • [发明专利]一种接触OPC方法-CN202310487630.5在审
  • 何大权;陈翰;魏芳 - 上海华力微电子有限公司
  • 2023-04-28 - 2023-08-01 - G03F7/20
  • 本发明提供一种接触OPC方法,包括在接触目标图形中选择特征OPC图形,并选择相应的第一亚分辨率辅助图形得到第二亚分辨率辅助图形,以特征OPC图形对应的特征目标图形边为目标生成第三亚分辨率辅助图形,根据目标图形和第三亚分辨率辅助图形进行基于模型的本发明提供的接触OPC方法,可以整体提高整体工艺窗口,避免OPC热点的产生,且通过在OPC处理流程中优化亚分辨率辅助图形,改善热点通孔图形的工艺窗口的同时,又不需要重复执行OPC流程,减少OPC方法优化流程及
  • 一种接触opc方法
  • [发明专利]形成接触的方法-CN200910045975.5有效
  • 邹立 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2009-01-19 - 2010-07-21 - H01L21/768
  • 一种形成接触的方法,包括:提供具有沟槽的第一材料以及填满所述沟槽并覆盖第一材料表面的第二材料;使用第一蚀刻步骤蚀刻第二材料至曝露出第一材料;使用第二蚀刻步骤继续蚀刻第一材料至第一材料的沟槽中的第二材料露头形成第二材料插塞;在第一材料及第二材料插塞表面形成蚀刻停止;在蚀刻停止表面形成第三材料;蚀刻第三材料及蚀刻停止,形成与所述第二材料插塞连通的通孔;去除第二材料插塞表面及侧壁的蚀刻停止。所述形成接触的方法还节约了工艺成本。
  • 形成层间接方法
  • [实用新型]具有银接触的开关模组-CN201420420174.9有效
  • 杨勇欢 - 广州森下电装科技有限公司
  • 2014-07-28 - 2015-01-07 - H01H1/025
  • 本实用新型提供一种具有银接触的开关模组,包括壳体和收容固定在所述壳体内部的开关单元,所述开关单元包括第一开关触点、第二开关触点和金属弹片,其中所述第一开关触点和第二开关触点相对设置,所述第一开关触点和所述第二开关触点均包括铜基材和镀设在所述铜基材表面的银接触,所述金属弹片选择性地与所述第一开关触点的银接触或所述第二开关触点的银接触电性接触
  • 具有接触开关模组
  • [发明专利]用于使半导体材料与接触接触的方法-CN201380039266.0有效
  • T.聚纳 - 罗伯特·博世有限公司
  • 2013-06-04 - 2018-04-24 - H01L21/28
  • 本发明涉及一种用于使半导体材料与接触接触的方法,其中半导体材料具有碳化硅(SiC),所述方法包括下述方法步骤a)将接触片施加到半导体材料上,其中接触片包括氧化镍并且必要时镍;和b)以升高的温度处理至少接触片和半导体材料之间的界面通过这样的方法,例如可以建立欧姆接触部,所述欧姆接触部由于镍在碳化硅上的改进的附着而具有改进的持久稳定性。本发明此外涉及一种用于制造半导体构件的方法以及一种半导体构件。
  • 用于半导体材料接触方法

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